显微光学整体解决方案

研究级原子力显微镜FM-Nanoview 6800AFM


 
一、研究级原子力显微镜FM-Nanoview 6800AFM 主要功能特点
     硬件系统
光机电一体化设计,外形结构简单;
扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;
精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;
采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;
伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;
高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;
高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;
带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针扫描样品区域;
采用伺服马达控制CCD自动对焦功能;
模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;
集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。
带温度显示。
    软件系统
可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像;
具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式;
可自由选择图像采样点为256×256或512×512;
多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;
多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;
可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;
可任意选择样品起始扫描角度;
激光光斑检测系统的实时调整功能;
针尖共振峰自动和手动搜索功能;
可任意定义扫描图像的色板功能;
支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;
支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;
支持样品图片离线分析与处理功能。
 
二、研究级原子力显微镜FM-Nanoview 6800AFM 主要技术指标
 
工作模式:接触、轻敲、可扩展相位、摩擦力、磁力或静电力
样品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm
最大扫描范围:横向50um,纵向5um
扫描分辨率:横向0.2nm,纵向0.05nm
扫描速率:0.6Hz~4.34Hz
扫描角度:任意
样品移动范围:0~50mm
马达趋近脉冲宽度:10±2ms
光学放大倍数:10X
光学分辨率:1um
图像采样点:256×256,512×512
扫描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
数据采样:14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样
反馈方式:DSP数字反馈
反馈采样速率:64.0KHz
计算机接口:USB2.0
运行环境:运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

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